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X射线光电子能谱仪(XPS)


华南地区唯一一家能够检测XPS的第三方检测机构



1. X射线光电子能谱技术

X射线光电子能谱技术(X-ray photoelectron spectroscopy,简称XPS)是一种表面分析方法, 使用X射线去辐射样品,使原子或分子的内层电子或价电子受激发射出来,被光子激发出来的电子称为光电子,可以测量光电子的能量和数量,从而获得待测物组成。

XPS主要应用是测定电子的结合能来鉴定样品表面的化学性质及组成的分析,其特点在光电子来自表面10nm以内,仅带出表面的化学信息,具有分析区域小、分析深度浅和不破坏样品的特点,广泛应用于金属、无机材料、催化剂、聚合物、涂层矿石等各种材料的研究,以及腐蚀、润滑、催化、包覆、氧化等过程的研究。


2. X射线光电子能谱分析(XPS)可为客户解决的产品质量问题

(1)当产品表面存在微小的异物,而常规的成分测试方法无法准确对异物进行定性定量分析,可选择XPS分析异物成分以及元素价态,从而确定异物的化学态,对失效机理研究提供准确的数据。

(2)当产品表面膜层太薄,或者有多层薄膜,无法使用常规测试进行厚度测量,可选择XPS进行分析,能准确测定各层薄膜厚度及组成成分

(3)当产品的表面存在同种元素多种价态的物质,常规测试方法不能区分元素各种价态所含的比例,可考虑XPS价态分析,分析出元素各种价态所含的比例。

3. X射线光电子能谱分析(XPS)注意事项

(1)样品最大规格尺寸为3×3×1cm,当样品尺寸过大需切割取样,粉末样品最好由客户选择对样品无污染的衬底制样。

(2)取样的时候避免手和取样工具接触到需要测试的位置,取下样品后使用真空包装或其他能隔离外界环境的包装, 避免外来污染影响分析结果。

(3)XPS元素分析范围Li-U,检出限0.1%。

4.应用实例

样品信息:客户发现手镯发黑,对黑色异物进行分析


(测试结果谱图)


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2020-05-09
2019-08-12
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